影响因子 > SCIE > 电气和电子工程
期刊简称:IEEE DES TEST
期刊全称:IEEE Design & Test
ISSN2168-2356
影响因子2023:1.909 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(计算机硬件与建筑)-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
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影响因子SCIE期刊IEEE DES TEST历年影响因子 派博传思
影响因子
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论文收录SCIE期刊IEEE Design & Test历年索引论文数量
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历年论文
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期刊IEEE DES TEST被引频次排名 @ SCIE工程、电气和电子 派博传思

历年即时
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历年即时
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五年总效
影响因子		SCIE期刊IEEE DES TEST五年总效影响因子 派博传思
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SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年1.909
2022年2.082
2021年2.223
2020年1.527
2019年2.409
2018年3.022
2017年1.538
2016年1.366
2015年0.681
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年181/271
2022年187/275
2021年166/276
2020年203/273
2019年126/266
2018年92/266
2017年152/260
2016年160/262
2015年186/257
SCIE期刊索引论文
2023年59
2022年61
2021年61
2020年54
2019年40
2018年50
2017年37
2016年53
2015年40
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年216/271
2022年220/275
2021年61/276
2020年64/273
2019年34/266
2018年41/266
2017年39/260
2016年41/262
2015年34/257
SCIE期刊总引频次
2023年1407
2022年1,511
2021年1,455
2020年1,338
2019年1,259
2018年1,384
2017年1,199
2016年1,282
2015年745
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年211/271
2022年212/275
2021年205/276
2020年200/273
2019年183/266
2018年164/266
2017年165/260
2016年155/262
2015年163/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年211/271
2022年212/275
2021年205/276
2020年200/273
2019年183/266
2018年164/266
2017年165/260
2016年155/262
2015年163/257
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2023年211/271
2022年212/275
2021年205/276
2020年200/273
2019年183/266
2018年164/266
2017年165/260
2016年155/262
2015年163/257
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2023年211/271
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2021年205/276
2020年200/273
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2018年164/266
2017年165/260
2016年155/262
2015年163/257

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