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期刊简称:IEEE DES TEST
期刊全称:IEEE Design & Test
ISSN2168-2356
影响因子2022:2.082 (2023年7月5日更新)
学科分类:SCIE-(计算机硬件与建筑)-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
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