影响因子 > SCIE > 电气和电子工程
期刊简称:IEEE J-STARS
期刊全称:IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing
ISSN1939-1404
影响因子2023:4.734 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE-(物理地理)-GEOGRAPHY, PHYSICAL
SCIE-(影像科学与摄影技术)-IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY
SCIE-(遥感)-REMOTE SENSING
出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences;
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊IEEE J-STARS历年影响因子 派博传思
影响因子
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论文收录SCIE期刊IEEE Journal of Selected Topics in Applied Earth Observations and Remote Sensing历年索引论文数量
论文收录
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历年论文
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期刊IEEE J-STARS被引频次排名 @ SCIE工程、电气和电子 派博传思

历年即时
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历年即时
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五年总效
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五年总效
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SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年4.734
2022年5.587
2021年4.715
2020年3.784
2019年3.827
2018年3.392
2017年2.777
2016年2.913
2015年2.145
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年62/271
2022年58/275
2021年72/276
2020年76/273
2019年59/266
2018年75/266
2017年78/260
2016年66/262
2015年61/257
SCIE期刊索引论文
2023年732
2022年736
2021年944
2020年508
2019年440
2018年406
2017年470
2016年496
2015年465
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年30/271
2022年29/275
2021年185/276
2020年183/273
2019年167/266
2018年163/266
2017年170/260
2016年152/262
2015年136/257
SCIE期刊总引频次
2023年23544
2022年23,986
2021年18,501
2020年13,046
2019年11,579
2018年9,671
2017年6,846
2016年5,514
2015年3,033
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年41/271
2022年44/275
2021年45/276
2020年60/273
2019年54/266
2018年64/266
2017年74/260
2016年76/262
2015年94/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年41/271
2022年44/275
2021年45/276
2020年60/273
2019年54/266
2018年64/266
2017年74/260
2016年76/262
2015年94/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年41/271
2022年44/275
2021年45/276
2020年60/273
2019年54/266
2018年64/266
2017年74/260
2016年76/262
2015年94/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年41/271
2022年44/275
2021年45/276
2020年60/273
2019年54/266
2018年64/266
2017年74/260
2016年76/262
2015年94/257

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