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影响因子
>
SCIE
>
电气和电子工程
期刊简称:
IEEE T DEVICE MAT RE
期刊全称:
IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY
ISSN
1530-4388
影响因子2023:
2.516 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:
SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE-(应用物理)-PHYSICS, APPLIED
出版商:
IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址:
445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
出版语言:
English
索引数据库:
SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators
影响因子
SCIE期刊IEEE T DEVICE MAT RE历年影响因子
派博传思
影响因子
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SCIE期刊IEEE T DEVICE MAT RE历年论文被引频次
派博传思
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派博传思
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SCIE期刊IEEE TRANSACTIONS ON DEVICE AND MATERIALS RELIABILITY历年即时影响因子
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SCIE期刊IEEE T DEVICE MAT RE五年总效影响因子
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五年总效
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IEEE T DEVICE MAT RE五年总效影响因子排名@SCIE工程、电气和电子
SCIE期刊
2015-2023年历年影响因子
2023年
2.516
2022年
2.079
2021年
1.886
2020年
1.761
2019年
1.407
2018年
1.583
2017年
1.512
2016年
1.575
2015年
1.437
SCIE期刊
历年影响因子排名
2023年
141/271
2022年
187/275
2021年
188/276
2020年
186/273
2019年
191/266
2018年
171/266
2017年
156/260
2016年
143/262
2015年
113/257
SCIE期刊
索引论文
2023年
70
2022年
55
2021年
79
2020年
92
2019年
101
2018年
77
2017年
98
2016年
84
2015年
77
SCIE期刊
索引论文数量专业排名
2023年
209/271
2022年
226/275
2021年
103/276
2020年
102/273
2019年
87/266
2018年
73/266
2017年
36/260
2016年
33/262
2015年
31/257
SCIE期刊
总引频次
2023年
2357
2022年
2,349
2021年
2,282
2020年
2,109
2019年
1,791
2018年
1,842
2017年
1,841
2016年
1,769
2015年
1,350
SCIE期刊
总引频次学科排名
2023年
172/271
2022年
177/275
2021年
162/276
2020年
156/273
2019年
154/266
2018年
152/266
2017年
144/260
2016年
130/262
2015年
122/257
SCIE期刊
总引频次学科排名
2023年
172/271
2022年
177/275
2021年
162/276
2020年
156/273
2019年
154/266
2018年
152/266
2017年
144/260
2016年
130/262
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122/257
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总引频次学科排名
2023年
172/271
2022年
177/275
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162/276
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156/273
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2018年
152/266
2017年
144/260
2016年
130/262
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总引频次学科排名
2023年
172/271
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177/275
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154/266
2018年
152/266
2017年
144/260
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130/262
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122/257
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