影响因子 > SCIE > 电气和电子工程
期刊简称:IEEE T VLSI SYST
期刊全称:IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS
ISSN1063-8210
影响因子2023:2.882 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(计算机硬件与建筑)-COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE
SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
发行地址:445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊IEEE T VLSI SYST历年影响因子 派博传思
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IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS影响因子排名@SCIE电气和电子工程


论文收录SCIE期刊IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS历年索引论文数量
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期刊IEEE T VLSI SYST被引频次排名 @ SCIE工程、电气和电子 派博传思

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SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年2.882
2022年2.896
2021年2.775
2020年2.312
2019年2.037
2018年1.946
2017年1.744
2016年1.698
2015年1.245
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年128/271
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2021年135/276
2020年152/273
2019年139/266
2018年146/266
2017年135/260
2016年127/262
2015年132/257
SCIE期刊索引论文
2023年240
2022年172
2021年218
2020年253
2019年276
2018年272
2017年328
2016年339
2015年333
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年108/271
2022年131/275
2021年40/276
2020年29/273
2019年44/266
2018年19/266
2017年19/260
2016年17/262
2015年17/257
SCIE期刊总引频次
2023年6986
2022年7,326
2021年6,942
2020年6,270
2019年5,642
2018年5,703
2017年5,129
2016年4,985
2015年3,154
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2021年105/276
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2019年96/266
2018年94/266
2017年93/260
2016年86/262
2015年90/257
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