影响因子 > SCIE > 电气和电子工程
期刊简称:J ELECTRON TEST
期刊全称:JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS
ISSN0923-8174
影响因子2023:1.142 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
出版商:SPRINGER
发行地址:ONE NEW YORK PLAZA, SUITE 4600 , NEW YORK, United States, NY, 10004
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊J ELECTRON TEST历年影响因子 派博传思
影响因子
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论文收录SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS历年索引论文数量
论文收录
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历年论文
被引频次		SCIE期刊J ELECTRON TEST历年论文被引频次 派博传思
历年论文
被引频次
专业排名
期刊J ELECTRON TEST被引频次排名 @ SCIE工程、电气和电子 派博传思

历年即时
影响因子		SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS历年即时影响因子
历年即时
影响因子
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五年总效
影响因子		SCIE期刊J ELECTRON TEST五年总效影响因子 派博传思
五年总效
影响因子
专业排名		J ELECTRON TEST五年总效影响因子排名@SCIE工程、电气和电子
SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年1.142
2022年0.953
2021年0.795
2020年0.880
2019年0.596
2018年0.625
2017年0.554
2016年0.647
2015年0.361
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年240/271
2022年249/275
2021年256/276
2020年245/273
2019年247/266
2018年243/266
2017年234/260
2016年221/262
2015年231/257
SCIE期刊索引论文
2023年43
2022年45
2021年45
2020年55
2019年62
2018年54
2017年55
2016年57
2015年44
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年237/271
2022年238/275
2021年217/276
2020年195/273
2019年215/266
2018年188/266
2017年158/260
2016年191/262
2015年139/257
SCIE期刊总引频次
2023年509
2022年509
2021年594
2020年553
2019年411
2018年417
2017年342
2016年371
2015年222
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年253/271
2022年259/275
2021年253/276
2020年247/273
2019年245/266
2018年242/266
2017年237/260
2016年228/262
2015年223/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年253/271
2022年259/275
2021年253/276
2020年247/273
2019年245/266
2018年242/266
2017年237/260
2016年228/262
2015年223/257
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2023年253/271
2022年259/275
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2019年245/266
2018年242/266
2017年237/260
2016年228/262
2015年223/257
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2015年223/257

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