| 期刊全称: | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS |
| 影响因子2022: | 0.953 (2023年7月5日更新) |
| 发行地址: | ONE NEW YORK PLAZA, SUITE 4600 , NEW YORK, United States, NY, 10004 |
| 索引数据库: | SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators
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| 影响因子 | SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS历年影响因子 派博传思
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影响因子
专业排名 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS影响因子排名@SCIE电气和电子工程
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| 论文收录 | SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS历年索引论文数量
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论文收录
专业排名 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS索引论文排名@SCIE电气和电子工程
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历年论文
被引频次 | SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS历年被引频次 派博传思
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历年论文
被引频次
专业排名 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS被引频次排名@SCIE电气和电子工程 派博传思
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历年即时
影响因子 | SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS历年即时影响因子
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历年即时
影响因子
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五年总效
影响因子 | SCIE期刊JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS五年总效影响因子 派博传思
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五年总效
影响因子
专业排名 | JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS五年总效影响因子排名@SCIE电气和电子工程
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