影响因子 > SCI > 应用物理
期刊简称:J X-RAY SCI TECHNOL
期刊全称:Journal of X-Ray Science and Technology
ISSN0895-3996
影响因子2022:3.066 (2023年7月5日更新)
学科分类:SCIE-(仪器仪表)-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
SCIE-(光学)-OPTICS
SCIE-(应用物理)-PHYSICS, APPLIED
出版商:IOS PRESS
发行地址:NIEUWE HEMWEG 6B, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1013 BG
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences;
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