| 期刊简称: | MICROELECTRON RELIAB |
| 期刊全称: | MICROELECTRONICS RELIABILITY |
| 影响因子2022: | 1.663 (2023年7月5日更新) |
| 出版商: | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD |
| 发行地址: | THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB |
| 索引数据库: | SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators
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| 影响因子 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年影响因子 派博传思
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影响因子
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY影响因子排名@SCIE应用物理
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| 论文收录 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年索引论文数量
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论文收录
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY索引论文排名@SCIE应用物理
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历年论文
被引频次 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年被引频次 派博传思
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历年论文
被引频次
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY被引频次排名@SCIE应用物理 派博传思
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历年即时
影响因子 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年即时影响因子
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历年即时
影响因子
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY即时影响因子排名@SCIE应用物理
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五年总效
影响因子 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY五年总效影响因子 派博传思
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五年总效
影响因子
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY五年总效影响因子排名@SCIE应用物理
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