影响因子 > SCIE > 应用物理
期刊简称:MICROELECTRON RELIAB
期刊全称:MICROELECTRONICS RELIABILITY
ISSN0026-2714
影响因子2023:1.672 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE-(纳米科学与纳米技术)-NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY
SCIE-(应用物理)-PHYSICS, APPLIED
出版商:PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
发行地址:THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊MICROELECTRON RELIAB历年影响因子 派博传思
影响因子
专业排名		MICROELECTRONICS RELIABILITY影响因子排名@SCIE应用物理


论文收录SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年索引论文数量
论文收录
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期刊MICROELECTRON RELIAB被引频次排名 @ SCIE物理，应用 派博传思

历年即时
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五年总效
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SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年1.672
2022年1.663
2021年1.418
2020年1.589
2019年1.535
2018年1.483
2017年1.236
2016年1.371
2015年1.202
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年117/159
2022年126/160
2021年133/161
2020年118/160
2019年105/155
2018年100/148
2017年106/146
2016年101/148
2015年94/145
SCIE期刊索引论文
2023年305
2022年325
2021年348
2020年340
2019年312
2018年516
2017年394
2016年408
2015年410
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年58/159
2022年54/160
2021年18/161
2020年26/160
2019年NULL/155
2018年NULL/148
2017年NULL/146
2016年NULL/148
2015年NULL/145
SCIE期刊总引频次
2023年8290
2022年8,654
2021年8,303
2020年7,798
2019年7,093
2018年6,983
2017年6,254
2016年6,423
2015年4,680
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年69/159
2022年69/160
2021年69/161
2020年65/160
2019年61/155
2018年60/148
2017年55/146
2016年52/148
2015年53/145
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年69/159
2022年69/160
2021年69/161
2020年65/160
2019年61/155
2018年60/148
2017年55/146
2016年52/148
2015年53/145
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年69/159
2022年69/160
2021年69/161
2020年65/160
2019年61/155
2018年60/148
2017年55/146
2016年52/148
2015年53/145
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2023年69/159
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2016年52/148
2015年53/145

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