| 期刊简称: | MICROELECTRON RELIAB |
| 期刊全称: | MICROELECTRONICS RELIABILITY |
| 影响因子2022: | 1.663 (2023年7月5日更新) |
| 出版商: | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD |
| 发行地址: | THE BOULEVARD, LANGFORD LANE, KIDLINGTON, OXFORD, ENGLAND, OX5 1GB |
| 索引数据库: | SCIE (Science Citation Index Expanded);
Current Contents Electronics & Telecommunications Collection;
Current Contents Engineering, Computing & Technology;
Essential Science Indicators
|
| 影响因子 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年影响因子 派博传思
 |
影响因子
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY影响因子排名@SCIE电气和电子工程
|
| 论文收录 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年索引论文数量
 |
论文收录
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY索引论文排名@SCIE电气和电子工程
 |
历年论文
被引频次 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年被引频次 派博传思
 |
历年论文
被引频次
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY被引频次排名@SCIE电气和电子工程 派博传思
 |
历年即时
影响因子 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY历年即时影响因子
 |
历年即时
影响因子
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY即时影响因子排名@SCIE电气和电子工程
 |
五年总效
影响因子 | SCIE期刊MICROELECTRONICS RELIABILITY五年总效影响因子 派博传思
 |
五年总效
影响因子
专业排名 | MICROELECTRONICS RELIABILITY五年总效影响因子排名@SCIE电气和电子工程
 |
|
