期刊全称: | Surface Topography-Metrology and Properties |
影响因子2022: | 2.771 (2023年7月5日更新) |
发行地址: | TEMPLE CIRCUS, TEMPLE WAY, BRISTOL, ENGLAND, BS1 6BE |
索引数据库: | SCIE (Science Citation Index Expanded); Current Contents Engineering, Computing & Technology; Current Contents Physical, Chemical & Earth Sciences; Essential Science Indicators
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影响因子 | SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties历年影响因子 派博传思
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影响因子 专业排名 | Surface Topography-Metrology and Properties影响因子排名@SCIE仪器仪表
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论文收录 | SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties历年索引论文数量
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论文收录 专业排名 | Surface Topography-Metrology and Properties索引论文排名@SCIE仪器仪表
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历年论文 被引频次 | SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties历年被引频次 派博传思
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历年论文 被引频次 专业排名 | Surface Topography-Metrology and Properties被引频次排名@SCIE仪器仪表 派博传思
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历年即时 影响因子 | SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties历年即时影响因子
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历年即时 影响因子 专业排名 | Surface Topography-Metrology and Properties即时影响因子排名@SCIE仪器仪表
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五年总效 影响因子 | SCIE期刊Surface Topography-Metrology and Properties五年总效影响因子 派博传思
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五年总效 影响因子 专业排名 | Surface Topography-Metrology and Properties五年总效影响因子排名@SCIE仪器仪表
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