影响因子 > SCIE > 电气和电子工程
期刊简称:IETE TECH REV
期刊全称:IETE TECHNICAL REVIEW
ISSN0256-4602
影响因子2023:2.58 (2024年7月16日更新, 下次2025年7月20日更新)
学科分类:SCIE-(电气和电子工程)-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC
SCIE-(电信)-TELECOMMUNICATIONS
出版商:TAYLOR & FRANCIS LTD
发行地址:2-4 PARK SQUARE, MILTON PARK, ABINGDON, England, OXON, OX14 4RN
出版语言:English
索引数据库:SCIE (Science Citation Index Expanded);
Essential Science Indicators

影响因子SCIE期刊IETE TECH REV历年影响因子 派博传思
影响因子
专业排名		IETE TECHNICAL REVIEW影响因子排名@SCIE电气和电子工程


论文收录SCIE期刊IETE TECHNICAL REVIEW历年索引论文数量
论文收录
专业排名		IETE TECHNICAL REVIEW索引论文排名@SCIE电气和电子工程
历年论文
被引频次		SCIE期刊IETE TECH REV历年论文被引频次 派博传思
历年论文
被引频次
专业排名
期刊IETE TECH REV被引频次排名 @ SCIE工程、电气和电子 派博传思

历年即时
影响因子		SCIE期刊IETE TECHNICAL REVIEW历年即时影响因子
历年即时
影响因子
专业排名		IETE TECHNICAL REVIEW即时影响因子排名@SCIE电气和电子工程
五年总效
影响因子		SCIE期刊IETE TECH REV五年总效影响因子 派博传思
五年总效
影响因子
专业排名		IETE TECH REV五年总效影响因子排名@SCIE工程、电气和电子
SCIE期刊 2015-2023年历年影响因子
2023年2.58
2022年2.465
2021年1.932
2020年2.200
2019年1.845
2018年1.618
2017年1.339
2016年1.330
2015年1.304
SCIE期刊历年影响因子排名
2023年138/271
2022年156/275
2021年183/276
2020年156/273
2019年151/266
2018年169/266
2017年172/260
2016年162/262
2015年125/257
SCIE期刊索引论文
2023年33
2022年36
2021年45
2020年105
2019年24
2018年50
2017年39
2016年55
2015年42
SCIE期刊索引论文数量专业排名
2023年248/271
2022年249/275
2021年211/276
2020年147/273
2019年153/266
2018年237/266
2017年245/260
2016年256/262
2015年247/257
SCIE期刊总引频次
2023年1332
2022年1,356
2021年1,211
2020年1,065
2019年803
2018年805
2017年618
2016年458
2015年346
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年213/271
2022年220/275
2021年220/276
2020年217/273
2019年219/266
2018年211/266
2017年210/260
2016年216/262
2015年204/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年213/271
2022年220/275
2021年220/276
2020年217/273
2019年219/266
2018年211/266
2017年210/260
2016年216/262
2015年204/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年213/271
2022年220/275
2021年220/276
2020年217/273
2019年219/266
2018年211/266
2017年210/260
2016年216/262
2015年204/257
SCIE期刊总引频次学科排名
2023年213/271
2022年220/275
2021年220/276
2020年217/273
2019年219/266
2018年211/266
2017年210/260
2016年216/262
2015年204/257

京公网安备110108008328, 京ICP备12036021号,
Copyright © 2001-2015 影响因子官网  版权所有 All rights reserved